Reliability Assessment of Combinational Logic Using First-Order-Only Fanout Reconvergence Analysis - Télécom Paris
Communication Dans Un Congrès Année : 2013

Reliability Assessment of Combinational Logic Using First-Order-Only Fanout Reconvergence Analysis

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique Electronique

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https://telecom-paris.hal.science/hal-02411994

Soumis le : dimanche 15 décembre 2019-12:40:49

Dernière modification le : mardi 19 novembre 2024-12:50:45

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Dates et versions

hal-02411994 , version 1 (15-12-2019)

Identifiants

  • HAL Id : hal-02411994 , version 1

Citer

Samuel Nascimento Pagliarini, Tian Ban, Lirida Naviner, Jean-François Naviner. Reliability Assessment of Combinational Logic Using First-Order-Only Fanout Reconvergence Analysis. Midwest Symposium on Circuits and Systems (MWSCAS), Aug 2013, Columbus, OH., United States. ⟨hal-02411994⟩

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