Selective Hardening Against Multiple Faults Employing a Net-based Reliability Analysis - Télécom Paris
Communication Dans Un Congrès Année : 2013

Selective Hardening Against Multiple Faults Employing a Net-based Reliability Analysis

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique Electronique

TelecomParis HAL  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://telecom-paris.hal.science/hal-02411993

Soumis le : dimanche 15 décembre 2019-12:40:47

Dernière modification le : mercredi 23 octobre 2024-10:30:04

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-02411993 , version 1 (15-12-2019)

Identifiants

  • HAL Id : hal-02411993 , version 1

Citer

Samuel Nascimento Pagliarini, Lirida Naviner, Jean-François Naviner. Selective Hardening Against Multiple Faults Employing a Net-based Reliability Analysis. International New Circuits and Systems Conference (NEWCAS), Jun 2013, Paris, France. ⟨hal-02411993⟩

Exporter

BibTeX XML-TEI Dublin Core DC Terms EndNote DataCite

Collections

CNRS PARISTECH LTCI COMELEC SSH INSTITUT-MINES-TELECOM
28 Consultations
0 Téléchargements

Partager

More