Reliability Analysis of a Reed-Solomon Decoder - Télécom Paris
Communication Dans Un Congrès Année : 2012
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-02411876 , version 1 (15-12-2019)

Identifiants

  • HAL Id : hal-02411876 , version 1

Citer

Kaikai Liu, Tian Ban, Lirida Naviner, Jean-François Naviner. Reliability Analysis of a Reed-Solomon Decoder. IEEE International Midwest Symposium on Circuits and Systems (MWSCAS), Aug 2012, Boise, Idaho, United States. ⟨hal-02411876⟩
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