A Tool for Transient Fault Analysis in Combinational Circuits - Télécom Paris Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2015
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-02287234 , version 1 (13-09-2019)

Identifiants

  • HAL Id : hal-02287234 , version 1

Citer

Mariem Slimani, Lirida Naviner. A Tool for Transient Fault Analysis in Combinational Circuits. IEEE International Conference on Electronics, Circuits, and Systems, Dec 2015, Caire, Egypt. ⟨hal-02287234⟩
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