A Tool for Transient Fault Analysis in Combinational Circuits - Télécom Paris
Communication Dans Un Congrès Année : 2015

A Tool for Transient Fault Analysis in Combinational Circuits

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

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https://telecom-paris.hal.science/hal-02287234

Soumis le : vendredi 13 septembre 2019-16:45:09

Dernière modification le : mercredi 23 octobre 2024-10:30:04

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Dates et versions

hal-02287234 , version 1 (13-09-2019)

Identifiants

  • HAL Id : hal-02287234 , version 1

Citer

Mariem Slimani, Lirida Naviner. A Tool for Transient Fault Analysis in Combinational Circuits. IEEE International Conference on Electronics, Circuits, and Systems, Dec 2015, Caire, Egypt. ⟨hal-02287234⟩

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