A Fast Reliability-aware Approach for Analogue Integrated Circuits based on Pareto Fronts - Télécom Paris
Communication Dans Un Congrès Année : 2013

A Fast Reliability-aware Approach for Analogue Integrated Circuits based on Pareto Fronts

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

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https://telecom-paris.hal.science/hal-02286777

Soumis le : vendredi 13 septembre 2019-16:10:20

Dernière modification le : mercredi 23 octobre 2024-10:30:04

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Dates et versions

hal-02286777 , version 1 (13-09-2019)

Identifiants

  • HAL Id : hal-02286777 , version 1

Citer

Hao Cai, H. Petit, J. F. Naviner. A Fast Reliability-aware Approach for Analogue Integrated Circuits based on Pareto Fronts. IEEE International NEWCAS Conference, Jun 2013, Paris, France. ⟨hal-02286777⟩

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