A Statistical Method for Transistor Ageing and Process Variation Applied to Reliability Simulation - Télécom Paris
Communication Dans Un Congrès Année : 2012

A Statistical Method for Transistor Ageing and Process Variation Applied to Reliability Simulation

Hao Cai
  • Fonction : Auteur
Secure and Safe Hardware
Département Communications & Electronique
H. Petit
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 1184736
Circuits et Systèmes de Communication
Département Communications & Electronique
J. F. Naviner
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 1184743

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

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https://telecom-paris.hal.science/hal-02286335

Soumis le : vendredi 13 septembre 2019-15:37:23

Dernière modification le : mercredi 23 octobre 2024-10:30:04

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Dates et versions

hal-02286335 , version 1 (13-09-2019)

Identifiants

  • HAL Id : hal-02286335 , version 1

Citer

Hao Cai, H. Petit, J. F. Naviner. A Statistical Method for Transistor Ageing and Process Variation Applied to Reliability Simulation. 3rd European Workshop on CMOS variability, Jun 2012, Nice – Sophia Antipolis, France. ⟨hal-02286335⟩

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