Heavy ions test result on a 65nm sparc-v8 radiation-hard microprocessor - Télécom Paris
Communication Dans Un Congrès Année : 2014

Heavy ions test result on a 65nm sparc-v8 radiation-hard microprocessor

Cyril Bottoni
  • Fonction : Auteur
Secure and Safe Hardware
Département Communications & Electronique
Jean-Marc Daveau
  • Fonction : Auteur
Gilles Gasiot
  • Fonction : Auteur
Lirida Naviner
Secure and Safe Hardware
Département Communications & Electronique
CV
Philippe Roche
  • Fonction : Auteur

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

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https://telecom-paris.hal.science/hal-02412075

Soumis le : dimanche 15 décembre 2019-12:44:29

Dernière modification le : mercredi 23 octobre 2024-10:30:04

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-02412075 , version 1 (15-12-2019)

Identifiants

  • HAL Id : hal-02412075 , version 1

Citer

Cyril Bottoni, Jean-Marc Daveau, Gilles Gasiot, Lirida Naviner, Philippe Roche. Heavy ions test result on a 65nm sparc-v8 radiation-hard microprocessor. IEEE International Reliability Physics Symposium, Jun 2014, Waikoloa, Hawai, United States. ⟨hal-02412075⟩

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