Failure Analysis in Magnetic Tunnel Junction Nanopillar with Interfacial Perpendicular Magnetic Anisotropy - Télécom Paris
Article Dans Une Revue Materials Science Journal Année : 2017

Failure Analysis in Magnetic Tunnel Junction Nanopillar with Interfacial Perpendicular Magnetic Anisotropy

Weisheng Zhao
  • Fonction : Auteur
You Wang
Secure and Safe Hardware
Département Communications & Electronique
Lirida Naviner
Secure and Safe Hardware
Département Communications & Electronique
CV

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique Electronique

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  • HAL Id : hal-02287641 , version 1

Citer

Weisheng Zhao, You Wang, Lirida Naviner. Failure Analysis in Magnetic Tunnel Junction Nanopillar with Interfacial Perpendicular Magnetic Anisotropy. Materials Science Journal, 2017, 9 (41), pp.1-17. ⟨hal-02287641⟩

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