EVALUATION OF SPECIFIC ABSORPTION RATE IN THE FAR-FIELD, NEAR-TO-FAR FIELD AND NEAR-FIELD REGIONS FOR INTEGRATIVE RADIOFREQUENCY EXPOSURE ASSESSMENT
Ilaria Liorni
,
Myles Capstick
,
Luuk van Wel
,
Joe Wiart
(1, 2, 3, 4, 5, 6)
,
Wout Joseph
,
Elisabeth Cardis
,
Mònica Guxens
,
Roel Vermeulen
,
Arno Thielens
1
IP Paris -
Institut Polytechnique de Paris
2 C2M - Chaire Modélisation, Caractérisation et Maîtrise des expositions aux ondes électromagnétiques
3 COMELEC - Département Communications & Electronique
4 RFM2 - Radio-Fréquences Microondes et Ondes Millimétriques
5 Télécom Paris
6 LTCI - Laboratoire Traitement et Communication de l'Information
2 C2M - Chaire Modélisation, Caractérisation et Maîtrise des expositions aux ondes électromagnétiques
3 COMELEC - Département Communications & Electronique
4 RFM2 - Radio-Fréquences Microondes et Ondes Millimétriques
5 Télécom Paris
6 LTCI - Laboratoire Traitement et Communication de l'Information
Ilaria Liorni
- Fonction : Auteur
Myles Capstick
- Fonction : Auteur
Luuk van Wel
- Fonction : Auteur
Joe Wiart
- Fonction : Auteur
- PersonId : 174210
- IdHAL : joe-wiart
- ORCID : 0000-0002-8902-5778
- IdRef : 057419884
Wout Joseph
- Fonction : Auteur
- PersonId : 763760
- ORCID : 0000-0002-8807-0673
Elisabeth Cardis
- Fonction : Auteur
Mònica Guxens
- Fonction : Auteur
- PersonId : 773259
- ORCID : 0000-0002-8624-0333
Roel Vermeulen
- Fonction : Auteur
Arno Thielens
- Fonction : Auteur