Detecting Faults in Inner-Product Masking Scheme - IPM-FD: IPM with Fault Detection - Télécom Paris
Communication Dans Un Congrès Année : 2019

Detecting Faults in Inner-Product Masking Scheme - IPM-FD: IPM with Fault Detection

Wei Cheng
CV
Claude Carlet
  • Fonction : Auteur
Kouassi Goli
  • Fonction : Auteur
Jean-Luc Danger
Département Communications & Electronique
Secure and Safe Hardware
Institut Polytechnique de Paris
CV
Sylvain Guilley
Département Communications & Electronique
Secure and Safe Hardware
Institut Polytechnique de Paris
CV

Domaines

Electronique

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https://telecom-paris.hal.science/hal-03037597

Soumis le : jeudi 3 décembre 2020-10:44:05

Dernière modification le : mercredi 23 octobre 2024-10:30:04

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Dates et versions

hal-03037597 , version 1 (03-12-2020)

Identifiants

Citer

Wei Cheng, Claude Carlet, Kouassi Goli, Jean-Luc Danger, Sylvain Guilley. Detecting Faults in Inner-Product Masking Scheme - IPM-FD: IPM with Fault Detection. Proceedings of 8th International Workshop on Security Proofs for Embedded Systems, Aug 2019, atlanta, United States. pp.17, ⟨10.29007/fv2n⟩. ⟨hal-03037597⟩

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