Simulation Study of Aging in CMOS Binary Adders - Télécom Paris
Communication Dans Un Congrès Année : 2014
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-02288395 , version 1 (14-09-2019)

Identifiants

  • HAL Id : hal-02288395 , version 1

Citer

Ting An, Hao Cai, Lirida Naviner. Simulation Study of Aging in CMOS Binary Adders. MIPRO 37th International Convention/Microelectronics, Electronics and Electronic Technology, May 2014, Opatija, Croatia. ⟨hal-02288395⟩
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