Article Dans Une Revue
Journal of Electronic Testing: : Theory and Applications
Année : 2018
TelecomParis HAL : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://telecom-paris.hal.science/hal-02287976
Soumis le : vendredi 13 septembre 2019-17:33:26
Dernière modification le : mercredi 23 octobre 2024-10:30:04
Citer
Naghmeh Karimi, Jean-Luc Danger, Sylvain Guilley. Impact of Aging on the Reliability of Delay PUFs. Journal of Electronic Testing: : Theory and Applications, 2018, 34 (5), pp.571-586. ⟨10.1007/s10836-018-5745-6⟩. ⟨hal-02287976⟩
Collections
43
Consultations
0
Téléchargements