Article Dans Une Revue
Microelectronics Reliabilit Journal
Année : 2017
TelecomParis HAL : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://telecom-paris.hal.science/hal-02287639
Soumis le : vendredi 13 septembre 2019-17:10:13
Dernière modification le : mercredi 23 octobre 2024-10:30:04
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-02287639 , version 1
Citer
Mariem Slimani, Karim Benkalaia, Lirida Naviner. Analysis of Ageing effects on ARTIX7 XILINX FPGA (article) Author. Microelectronics Reliabilit Journal, 2017. ⟨hal-02287639⟩
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