Article Dans Une Revue
Microelectronics Reliability
Année : 2015
TelecomParis HAL : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://telecom-paris.hal.science/hal-02287224
Soumis le : vendredi 13 septembre 2019-16:44:36
Dernière modification le : mercredi 23 octobre 2024-10:30:04
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-02287224 , version 1
Citer
Hao Cai, You Wang, Lirida Naviner, Weisheng Zhao. Ultra wide voltage range consideration of reliability-aware STT magnetic flip-flop in 28nm FDSOI technology. Microelectronics Reliability, 2015. ⟨hal-02287224⟩
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