Analysis of Electromagnetic Information Leakage from Cryptographic Devices with Different Physical Structures - Télécom Paris
Article Dans Une Revue IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility Année : 2013

Analysis of Electromagnetic Information Leakage from Cryptographic Devices with Different Physical Structures

Yu-Ichi Hayashi
  • Fonction : Auteur
Naofumi Homma
  • Fonction : Auteur
Secure and Safe Hardware
Département Communications & Electronique
Takaaki Mizuki
  • Fonction : Auteur
Takafumi Aoki
  • Fonction : Auteur
Hideaki Sone
Laurent Sauvage
Secure and Safe Hardware
Département Communications & Electronique
CV
Jean-Luc Danger
Secure and Safe Hardware
Département Communications & Electronique
CV

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Electronique

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Dates et versions

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Identifiants

  • HAL Id : hal-02286819 , version 1

Citer

Yu-Ichi Hayashi, Naofumi Homma, Takaaki Mizuki, Takafumi Aoki, Hideaki Sone, et al.. Analysis of Electromagnetic Information Leakage from Cryptographic Devices with Different Physical Structures. IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, 2013, 55 (3), pp.571-580. ⟨hal-02286819⟩

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