Circuit-level Hardening Against Multiple Faults: Combining Global TMR and Selective Hardening - Télécom Paris
Communication Dans Un Congrès Année : 2013

Circuit-level Hardening Against Multiple Faults: Combining Global TMR and Selective Hardening

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique Electronique

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https://telecom-paris.hal.science/hal-02286728

Soumis le : vendredi 13 septembre 2019-16:06:09

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hal-02286728 , version 1 (13-09-2019)

Identifiants

  • HAL Id : hal-02286728 , version 1

Citer

Samuel Nascimento Pagliarini, Lirida Naviner, Jean-François Naviner. Circuit-level Hardening Against Multiple Faults: Combining Global TMR and Selective Hardening. Journées Nationales du Réseau Doctoral de Microélectronique, Jun 2013, Grenoble, France. ⟨hal-02286728⟩

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