Selective Hardening Concerning Single and Multiple Faults - Télécom Paris
Communication Dans Un Congrès Année : 2012

Selective Hardening Concerning Single and Multiple Faults

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

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https://telecom-paris.hal.science/hal-02286334

Soumis le : vendredi 13 septembre 2019-15:37:21

Dernière modification le : mercredi 23 octobre 2024-10:30:04

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Dates et versions

hal-02286334 , version 1 (13-09-2019)

Identifiants

  • HAL Id : hal-02286334 , version 1

Citer

Samuel Nascimento Pagliarini, Lirida Naviner, Jean-François Naviner. Selective Hardening Concerning Single and Multiple Faults. Journées Nationales du Réseau Doctoral de Microélectronique (JNRDM), Jun 2012, Marseille, France. ⟨hal-02286334⟩

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