Fault tolerant architectures in nanoelectronics: The progressive approach - Télécom Paris
Communication Dans Un Congrès Année : 2012

Fault tolerant architectures in nanoelectronics: The progressive approach

Tian Ban
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 913103
  • IdRef : 174721544
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-02286332 , version 1 (13-09-2019)

Identifiants

  • HAL Id : hal-02286332 , version 1

Citer

Tian Ban, Lirida Naviner. Fault tolerant architectures in nanoelectronics: The progressive approach. Southern Simposium of Microelectronics, Apr 2012, Sao Miguel das Missoes, RS, Brazil. ⟨hal-02286332⟩
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